製品案内
STI社レーザービーム計測分析装置
◆蛍光板方式 ◆紫外・X線対応 ◆高分解能 ◆リアルタイム
モ デ ル 名 ＢＩＰ−５１００シリーズビーム分布計測装置 主 な 特 徴 ●Ｘ線−紫外幅広い波長対応蛍光板方式で計測可視化 ●高いレーザー耐力・リアルタイムでビーム分布計測 ●幅広い線形ダイナミックレンジより高精度高解像度 基 本 仕 様汎用型BIP-5100/Z6/F50P/XC73 計測波長域ソフトＸ線から紫外350nm 全域感度1%、ダイナミックレンジ6桁 空間分解能70−15μm、 最高1μ可能 光耐力500mJ/CM2/Pulse、CW-10W/CM2 観察範囲30×40mm,高倍率時5×6.7mm
WINCAM-STビーム分析パッケージ システム 構成 WINOWS 95、 CPU 586/100Hz以上 PCI 1スロット､800×600 VGAモニタ 空 間 分 解 能 1000×1000(信号30Hz/8ビット場合) 入力パラメータ 強度･ AMP率･ ビームサイズ･トリガ ファンクション ガウシャン分析､Top-Hat、均一特性 パルス強度・積算、軸積算、センタ その他製品とオプション BIP-F/F10G
低コスト・小型 1. BIP-F/F10G： 低コスト・小型Φ38mm×Ｌ76mm 2. 選ばれる各種蛍光板： 波長･感度別C/R/G/P/Y-TYPE 3. BIP-6100型： オンライン計測・インセションロス≦5% 4. 高倍率ズームレンズ： 6倍ズーム・高い空間分解能 5. 信号中継ボックス： オシロ・A/Dボード・DMM切換可 6. ST-1/P J-Meter： STI社全プローブ適用インジケータ 7. BEM J-PROBES： 波長域X線−350nm、感度0.2V−1KV/J
